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SRAM在新一代IoT和可穿戴嵌入式设计中的作用

来源:    作者:    发布时间:2016-02-08 09:25:54    浏览量:

引脚数更少

在SRAM的功耗低于闪存和DRAM时,使用SRAM进行存储器扩展的主要问题是其并行接口。尽管并行接口能实现更快的读写速度,但有太多的IO需要连接。例如,如果将一个1Mb SRAM (64Kb x16) 与一个MCU连接,所需的IO数量将会是32个(16个地址,16个数据)。进行多路复用可将该数字减少至24。但容量每增加一级(2M、4M、8M 等),引脚数就会增加1个。

极小可穿戴电路板上用来连接SRAM的IO数量有限,因为小型MCU的封装引脚数量少。要与这些MCU连接,SRAM必须突破传统的并行接口。串行闪存和EEPROM等的成功增强了串行存储器选项的市场需求。MCU使用嵌入式高速缓存已有很多年了,因此对于串行SRAM的需求直到最近几年才被发觉。串行SRAM可实现更便捷的接口连接,更少的引脚使用(单路SPI用两个,双路SPI用两个,四路SPI用四个)。此外,所需的IO数量不会随容量增加而增多。

目前,我们的串行SRAM容量低,存取速度相对较慢(存取时间达25ns,容量为1M)。在不久的将来,我们将有望刷新这两个参数。随着可穿戴产品进入全新时代,我们可能会希望MCU完成更为复杂的工作。在这种情况下,具有更高吞吐量的更高容量高速缓存/高速暂存存储器会十分有用。因此,串行SRAM 向更高速和更高容量的方向发展将对该市场十分有利。使用CSP封装缩小尺寸再加上串行接口,SRAM将会成为可穿戴产品中高速缓存及高速暂存存储器的强大选项。

高性能,低功耗

当前有两个不同系列的异步SRAM:快速SRAM(支持高速存取)和低功耗SRAM(低功耗)。从技术角度看,这种权衡是合理的。在低功耗SRAM 中,通过采用特殊栅诱导漏极泄漏(GIDL)控制技术控制待机电流来控制待机功耗。这些技术需要在上拉或下拉路径中添加额外的晶体管,因此会加剧存取延迟,而且在此过程中会延长存取时间。在快速SRAM中,存取时间占首要地位,因此不能使用这些技术。此外,要减少传播延迟,需要增大芯片尺寸。芯片尺寸增大会增大漏电流,从而增加整体待机功耗。

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