中规模集成电路功能测试仪设计方案详解

　　集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。因此，研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值。

　　在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器(ADC)、数模转换器(DAC)、555集成定时电路、3524开关电源控制器等中规模集成电路。由于学生通常是初次接触使用芯片，经常会由于操作不当造成电路芯片的损伤或损坏，而表面上却无法作出正确的判断。在这种情况下，非常需要有适当的集成电路的测试仪，用于测试、判断芯片的好坏。而市面上又没有合适的测试仪可供选购。因此，本文设计制作了可用于一些特定的中规模电路的测试仪。根据具体的需要选取了ADC0809、DAC0832、LM555、WC3524等几种芯片作为测试对象，并设计了相应的专门测试仪。

　　测试仪的结构示意框图如图1所示。该测试仪器的控制器采用了Atmel公司的八位单片机89C55，用于完成界面管理和自动检测控制功能[3].其中采用了Maxim公司的MAX197高精度的A/D转换器来完成模拟信号的测试[4].下面分别介绍各类器件的测试原理和方法。

　　图1 测试仪结构框图

　　1测试原理和测试电路

　　测试一个器件的功能或特性参数，通常采取该器件的典型应用电路，把功能体现出来，把参数值直接或间接地反映出来。

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