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学习笔记20120304(第一章)

来源:    作者:    发布时间:2021-09-03 06:22:10    浏览量:

本文参考的是Linear的AN88。

图片没办法直接copy进来,一张一张的贴太麻烦,感兴趣的朋友可以下载附件中的an88f.pdf,对照着看。

第一章      Ceramic input capacitors can cause overvoltage transients.

本文讨论的是Adapter与移动设备之间的电源连接。

瓷片电容用作DC/DC输入:体积小,ESR低,RMS电流高。

而且,最近,由于钽电容的自身缺点,也有设计人员开始选用瓷片电容来替代钽电容。

当输入电压有一个向上阶跃的时候,会引起较大的输入浪涌电流,很容易使瓷片电容上产生两倍于输入电压阶跃的电压上冲。

Plug in the wall adapter at your own risk

上电顺序会引起输入电压瞬变的问题。

如果先把Adapter插到交流插座上电,然后输出接到移动设备上,就会导致很高的瞬间输入电压,损坏设备里面的DC/DC。

Building the test circuit (24V adapter)

(AN88,Figure1)图中的Lout、Cin,以及ESR(包含引线、端子、Cin的ESR)构成振荡回路。

Lout:为引线电感与Adapter输出EMI电感之和的等效值;

Cout:几千uF量级,ESR约:10~30mΩ;

Cin:10~100uF,电容值主要由后面的DC/DC产生的电流纹波来决定,一般为1A~2A。

因此需要10uF~22uF瓷片电容 + 2~3个22uF钽电容或1~2个OS-CON电容。

Turning on the switch

SW1接通后可能会引起振荡,Cout已经有24V电压,Lout及Cin会振荡几次后Cin电压稳定在24V。

实际波形由电路中的各元件决定。

 仿真电路时需注意:

瓷片电容在其额定电压时,Y5V的电容会损失掉80%的电容量,且ESR的值会受到电流波形上升时间的影响。

EMI抑制电感,由于磁性元件的饱和而降低电感值。

 Testing a portable application

SW1开关闭合后,引起的输入电容上的瞬态电压如下图(AN88,Figure2):Cin = 10, 22uF & Lout = 1, 10uH。

(AN88,Table 1)表格中的Lin即为Lout的值。

10uF & 1uH时,电压峰值57.2V@ Vin=24V。

对于DC/DC来讲,重复的57.2V可能导致其损坏。

R2波形中峰值后面的平台部分,表明此时M1产生雪崩吸收了部分能量。

Input voltage transients with different input elements

不同类型的输入电容会导致不同的瞬态电压波形。

参考(AN88,Figure3,Table2)

波形R1:Cin = 22uF, Lout = 1uH, Vpk = 40.8V

波形R2:同上,增加TVS,P6KE30A,钳位。

很难选择合适的TVS。

波形R3:Cin = 22uF/35V AVX的TPS钽电容。

波形R4:Cin = 22uF/30V Sanyo的OS-CON电容。

R3,R4的波形均将输入电压降到一个相对合理的水平,但是体积较大,而且为了满足纹波电流的要求,需要多个电容并联。

Optimizing input capacitors

优化输入电容,需要清楚的理解:在上电时,输入端的RLC谐振电路会发生欠阻尼、临界阻尼、过阻尼瞬态响应。

为了输入滤波电路的体积最小化,通常应该选欠阻尼谐振电路。

但实际上,需要采用临界阻尼电路,电压能很好的上升到输入电压且没有电压过冲和振荡。

为了使输入滤波电路尽可能体积小,仍选用瓷片电容(高纹波电流和低ESR)。

先选定最小的输入电容,本例中22uF/35V,参考下图(AN88,Figure4,Table3)中R1,Vpk = 40.8V。

R2:在R1基础上,增加(瓷片电容22uF串联0.5Ω电阻)与Cin并联,Vpk = 30V。

R3:在R1基础上,增加22uF/35V的TPS型钽电容(ESR=0.5Ω)与Cin并联。

R4:在R1基础上,增加30V的TVS与Cin并联

Ch1:在R1基础上,增加一个47uF/35V铝电解电容(Sanyo 35CV47AXA)与Cin并联,Vpk = 25V。

此电解电容ESR = 0.44Ω,RMS电流230mA,体积6.3mm x 6mm。

显然不能只用这一个电容作为1A~2A的RMS纹波电流的输入滤波,22uF瓷片+47uF电解为最佳方案。

Conclusion

设计中不能忽视输入电压瞬态变化的问题。

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