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EDA环境衔接测量软件 电子产品开发周期大幅缩短

来源:    作者:    发布时间:2016-04-02 06:41:55    浏览量:

  透过EDA软件进行测量 产品设计周期大幅缩短

  EDA与测试软件连结而改善设计程序的方法,就是提供更丰富的测量功能。基本上,EDA工具将透过行为模式(Behavioral Model)预测全新设计的行为。可惜的是,固定模式的设计均是透过测量准则进行检验,与检验最终产品所用的测量准则大不相同,因此难以整合已模拟与已测量的资料。目前业界正朝向“从设计到测试共用单一工具链”的一条鞭方法,让工程师可儘早将测量作业带入设计流程。

  明导国际(Mentor Graphics)副总裁兼系统层级工程部门经理Serge Leef表示,在衔接EDA工具与测试软件之后,工程师可于产品开发期间同时设计测试工作台,并于设计程序中儘早获得测试报告。由于工程师能同时进行开发与测试结果,而不是像以前必须依序完成作业,因此能大幅缩短设计周期。

  先以行动电话的多重模式射频(RF)功率放大器(PA)为例,此类元件的传统设计方式,即使用如AWR Microwave Office的RF EDA工具。透过EDA环境,工程师可透过模拟作业而取得RF特性参数,如效率、增益、1dB压缩点(Compression Point)等,但最终产品所必须满足的RF测量准则,却又是专为行动电话标准(如全球行动通讯系统/增强数据率演进(GSM/EDGE)、宽频分码多工 (WCDMA)、长程演进计画(LTE))所建立。

  在此之前,因为测量复杂度的不同,往往须实际测量DUT,才能透过衡量标准(如LTE错误向量幅度(EVM)与邻近通道洩漏比(ACLR))的“标准规格”而取得测量资料。但现在由于EDA软件与自动化软件可衔接,让工程师可于模拟装置上建构EDA环境,进而使用完整的测量演算法。也因为如此,工程师在设计初期即可找出复杂产品或系统相关的问题,亦等于缩短设计时间。

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