一种新型的LCD驱动电路IP核的总体设计

　　仿真和验证

　　本文利用Xilinx公司的仿真软件ISE作为仿真工具，分两步对所设计的IP核进行了验证。

　　首先，本文先对IP核的各个模块（包括内部的子模块）进行了初步的功能验证。然后，参照芯片的工作过程，对整个芯片进行了整体仿真。图3和图4是利用ISE对整个IP核的行和列控制功能进行仿真而得到的仿真结果。图中CLK和CLK1分别是MCU接口模块的数据传输控制时钟和行电极扫描脉冲；M和N分别为列电极与行电极数目选择控制端； CS的低两位和高两位分别为行级联与列级联控制端。

　　图3和图4的仿真结果说明：

　　1. 当RESET为高电平时，IP核处于初态或清零态；当WRITE为高电平时，IP核处于工作态，可以接收显示数据。

　　2. 在时钟CLK的上升沿，MCU通过接口向IP核的RAM并行写入8位显示数据；在时钟CLK1的上升沿，行扫描驱动电极依次输出扫描脉冲，列信号电极会把RAM里的数据从SEG上输出。

　　3. 行数控制端可以改变行扫描的电极数目。当行数选择控制端N为“3E”时，在COM0~COM61输出扫描信号。如图3所示，在第1个行时钟信号时，电极COM61上输出扫描信号，在行驱动时钟控制下，逐行递减对行电极进行扫描；第7个行时钟信号时，N变为“22”，扫描信号变成在行电极COM33上输出，逐行递减对COM0~COM33进行逐行扫描。

　　4. 列数控制端可以改变列信号的电极数目。当列数选择控制端M为“110”时，SEG电极为48位输出；当M为“010”时，SEG的输出变为16位；当M为“101”，SEG的输出变为40位；当M为“100”，SEG的输出变为32位。

　　本文对该IP核的列数控制、行数控制、核间级联等功能分别进行了功能验证，并都通过了验证。此处限于篇幅只介绍了列数与行数控制功能。

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